Grâce à la mise en oeuvre d’un savoir-faire optique basé sur la technologie avancée d’acquisition (caméras linéaires) et de traitement d’images optimisé en temps réel, la gamme d’équipements Lineavision® permet de caractériser, contrôler la conformité de structures produits mono ou multicouches de l’électronique imprimée et de qualifier tous types de procédés de fabrication en processus roule-à-roule, feuille-à-feuille, roule-à-feuille ..., atteignant une précision de mesure de l’ordre du micron.
Lineavision® s’adresse à un large spectre d’applications de l’électronique imprimée : Substrats & films barrières, circuits imprimés, films minces pour batteries, OPV (photovoltaïques organiques), antennes RFID, transistors imprimés, ...
Lineavision® : solution modulaire intégrée en-ligne parfaitement adaptée pour :
• L’inspection de 100% de matière en surface quelle que soit la largeur de laize et vitesse de défilement
• La surveillance en continu à chaque étape du processus de fabrication (impression, enduction, laminage, séchage, découpe, assemblage ...) :
- Contrôle de défaut d’aspect,
- Contrôle en registre,
- Mesures des caractéristiques géométriques de motifs, (position et synchronisation en registre, alignement, régularité de bords, inter-distance entre motifs, ...)
• Solution de traçabilité et de contrôle qualité pour une gestion globale du système d’information
- Contrôle à chaque étape de processus de fabrication,
- Identification de l’origine du défaut,
- Consolidation du traitement de toutes les données lors de l’inspection et archivage,
- Traçage du défaut des circuits/ modules tout au long du processus de fabrication -> le défaut peut être enlevé ou réparé aux étapes de fabrication suivantes,
- Suite logicielle d’analyse post-process (classification, statistiques, ...).
• Solution de traçabilité et de contrôle qualité pour une gestion globale du système d’information
- Contrôle à chaque étape de processus de fabrication,
- Identification de l’origine du défaut,
- Consolidation du traitement de toutes les données lors de l’inspection et archivage,
- Traçage du défaut des circuits/ modules tout au long du processus de fabrication -> le défaut peut être enlevé ou réparé aux étapes de fabrication suivantes,
- Suite logicielle d’analyse post-process (classification, statistiques, ...).
Innovations
Plateforme de métrologie optique avancée et caractérisation haute-résolution et multi-fonctionnelle :
Élaborée sur la base d’une technique sans contact, avec chargement en mode manuel ou automatique, la multi-fonctionnalité de la plateforme Lineavision® propose non seulement une inspection haute résolution de tous types de substrats flexibles (GEN1 ->GEN10) avec une précision de mesure à grande échelle pour une détection et localisation des défauts précises mais également une évaluation des diverses étapes de fabrication pour une amélioration et maîtrise du process en-ligne.
Plateforme multifonctionnelle haute-résolution:
• Ensemble de techniques de métrologie optiques (capteurs) avec précision de mesures à grande échelle pour la validation de la conformité de produits mono ou multi-couches,
• Mouvement haute-précision en 2D,
• Logiciel de reconnaissance de caractéristiques de surface pour l’ajustement et définition des paramètres de caractéristiques géométriques
8, avenue Duval Le Camus